IT之家 4 月 27 日新闻，“中科院之声”公家号今日发文称，近日，中国科学院金属钻研所团队开发出暗场电子层析成像新步骤 DFET-Nano，实现了对纳米金属晶界的三维“透视”
。单一来说，这就像给纳米晶粒作 CT 扫描
。

团队利用透射电子显微镜，从分歧角度为纳米晶粒拍摄大量暗场像照片，而后通过复杂的沉构算法，将二维图像合成为高精度的三维立体模型
。目前，该技术的空间分辨率已经达到 0.3 纳米
。

IT之家从文中获悉，这种步骤不仅沉建了晶粒的表形，还能同步解析其晶体学取向
。也就是说，钻研人员不仅能“看见”晶粒长什么样，还能知路每个晶粒的晶界结构特点，从而精确推算出晶界的晶面指数和曲率
。这些直观的三维证据，初次在尝试中验证了理论物理学家提出的“受限晶体结构”特点
。

这项钻研就像一把钥匙，打开了纳米资料“黑箱”
。借助它，科学家能在三维空间中直接观察和丈量晶界变动，从而更透辟地理解纳米金属不变机造，为未来设计更高机能、更不变的纳米资料提供了新的表征伎俩
。